玮斯特纳米科技(苏州)有限公司

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检测设备
当前条件:检测设备[删除]
探针式台阶仪
设备型号:Bruker,Dektak XT
主要功能:主要用于测量台阶高度和样品表面形貌。
样品尺寸:扫描长度:50 μm-55mm,拼接可达200 mm 垂直测量范围:<1 mm
椭偏仪
设备型号:SOPRA,GES5E
主要功能:主要用于薄膜厚度、折射率和消光系数。
样品尺寸:厚度<10 mm,大小<200 mm
微区X射线光电子能谱仪
设备型号:ThermoFisher Scientific,Esca Xi+
主要功能:主要用于测量材料表面的元素构成,化学态和电子态,表面元素构成的均匀性,并可以在微米范围内实现微区成像功能。
样品尺寸:
原子力显微镜
设备型号:
主要功能:
样品尺寸:
原子力显微镜
设备型号:Bruker,Demension Icon
主要功能:样品表面形貌表征、力曲线测试等,具备导电测试模块、开尔文探针测试模块、摩擦力测试模块等。可进行大气、液下环境测试。
样品尺寸:小于6英寸
综合物性测量系统
设备型号:美国 Quantum Design,DynaCool 14T
主要功能:1.磁学:MT、MH、转角功能、AC功能 2.力学:磁致伸缩、热膨胀、热导率和形貌表征 3.热学:热电、热磁曲线、比热、热电效应、塞贝克系数 4.电学:铁电、介电、交直流电阻率、磁电阻、霍尔系数 5.光学:电磁波辐照或诱导下电输运、磁测量
样品尺寸:
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