玮斯特纳米科技（苏州）有限公司

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先进技术实用功能

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检测设备

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幻灯片

400M核磁共振谱仪

设备型号：Bruker，AVANCE NEO 400M

主要功能：10.主要应用于有机化合物结构分析与性能研究

样品尺寸：

X-ray CT

设备型号：Nordson，Dage Quadra 7

主要功能：主要应用于在不破坏样品的条件下探究失效分析，焊丝连接完整性检查，元件开裂，MEMS检查和晶圆级元件，包括TSV和晶圆凸点等，非常适合于任何研究、开发、故障分析或质量控制实验室。

样品尺寸：成像几何最大放大倍数：2500X

磁学测量系统

设备型号：美国 Quantum Design，MPMS3

主要功能：主要用于基本的直流磁化率相关的测量、交流磁性测量、1000K高温磁测量和超低场、水平样品旋转杆、光诱导磁测量、高压磁测量以及电学测量等。

样品尺寸：

高分辨X射线衍射仪

设备型号：荷兰帕纳科，Empyrean

主要功能：主要用于对不同样品（粉末，薄膜，块状样品）在不同温度（常温，中低温，高温）进行物相鉴定。

样品尺寸：可以为粉末，块体或者薄膜。粉末要求研磨，重量大于200mg；块体和薄膜大于10mm×10mm，保证表面的平整性。样品应无毒，无辐射，不易挥发。

高速高分辨激光拉曼成像谱仪

设备型号：Horiba，LabRAM HR Evolution

主要功能：主要用于标准拉曼光谱采集、拉曼扫描成像、光致发光（PL）、变温拉曼光谱采集、变温拉曼扫描成像。

样品尺寸：

红外光谱仪

设备型号：HMS-5000（ECOPIA）

主要功能：11.可用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数

样品尺寸：

霍尔效应测试仪

设备型号：HMS-5000（ECOPIA）

主要功能：11.可用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数

样品尺寸：

接触角测试仪

设备型号：KRUSS，DSA25

主要功能：12.主要应用于液体对材料的接触角测量，表面处理工艺检测，表面洁净度测试以及涂层工艺的粘附性和稳定性研究

样品尺寸：

膜应力仪

设备型号：

主要功能：

样品尺寸：

纳米Xray显微镜

设备型号：Zeiss Xradia 520

主要功能：主要用于材料和结构在微米及纳米尺度的三维成像和研究。

样品尺寸：

全功能稳态瞬态荧光光谱仪

设备型号：EDINBURGH，FLS1000

主要功能：主要用于测量光致发光材料的激发光谱，发射光谱以及材料的荧光、磷光寿命和绝对量子产率等特性。可测量液体、粉末状及薄片状样品。

样品尺寸：

探针测试系统

设备型号：keithley 4200-scs

主要功能：主要用于材料研究、半导体器件设计、工艺开发或生产的复杂器件的测试。可进行电流-电压（I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测试。

样品尺寸：8英寸以下