玮斯特纳米科技(苏州)有限公司

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产品详情
探针式台阶仪
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探针式台阶仪

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设备型号 Bruker,Dektak XT 主要功能 主要用于测量台阶高度和样品表面形貌。
样品尺寸 扫描长度:50 μm-55mm,拼接可达200 mm 垂直测量范围:<1 mm
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